日本日置高阻计SM7420
HIOKI高阻计SM7420是用于评估和检查智能手机、混动电动汽车中的电子元件性能的4ch测试仪器。而且，和HIOKI之前的DSM-8542相比，检查速度提高了1倍，测量的再现性和抗干扰性都有大幅提升，因此能大大的提高评估和检查的效率。
日本日置高阻计SM7420适合于安装在自动设备中的4ch微小电流测量专用机型，日本日置高阻计SM7420不标配测试用探头。请根据测试目的另外购买选件中的探头。
● 实现了是以往机型300倍的抗干扰性能
● zui快6.4ms的高速测量
● 通道独立低电容接触检查
● zuida显示2×10^19 Ω，zui小分辨率0.1 fA
● 标配EXT I/O、RS-232C、GP-IB、USB
● 适合于安装在自动设备中，构建简单的MLCC泄漏电流检查线
HIOKI高阻计SM7420产品特点
1.实现4ch测量
电子元件生产中，为了提高产量，有时需要并列同时测量多通道，SM7420继承了之前机型DSM-8542的优点，可以进行4ch的绝缘测量。
※用于测量的电源需要另外准备。
2.检查速度是以往机型的2倍，缩短了检查时间。
zui快检查时间是6.7ms（0.0067秒），和以往机型的检查速度相比提高了1倍。由于缩短了检查时间，因此生产效率也会提升。
3.通过改善测量的再现性和抗干扰性，提高生产效率
和以往机型相比，测量的再现性和抗干扰性有大幅提升。在同一条件下进行反复测量时，测量值的变化程度降低为通常测量时的1/60。而且，混入50V干扰时，zui小能达到1/300，降低了变化幅度。
这样，通过增强测量的稳定性，从而提高检查的效率。
20PΩ测量SM7120中4CH机型登场
保留SM7120的抗干扰和测量功能，专门测量微小电流的4CH机型全新登场。 这是适用于组装至自动设备中的高速机型，比如MLCC检查的批量生产检查等。
搭载接触检查功能的皮安表
标配了接触检查功能。通过和外部电源组合使用的微小电流测量功能，可以实现接触检查，因此组装时可以放心使用。无需过多的尝试，提高整体的工时。 4通道单独检查，可以设置频率和延迟时间，因此能够做符合产线设计的细微调整。
日本日置高阻计SM7420的技术参数：
| 测量通道数 | 4ch |
|---|---|
| 直流电流测量(精度) | 20 pA量程 (分辨率 0.1 fA), 精度 ±(2.0% of rdg. +30 dgt.) 200 pA量程 (分辨率1.0 fA), 精度±(1.0% of rdg. +30 dgt.) 2 nA量程 (分辨率10 fA), 精度±(0.5% of rdg. +20 dgt.) 20 nA量程 (分辨率100 fA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 nA量程 (分辨率1 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 2 μA量程 (分辨率10 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 20 μA量程 (分辨率100 pA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) 200 μA量程 (分辨率1 nA), 精度±(0.5% of rdg. +10 dgt.) ※2 mA量程 (分辨率10 nA), 精度±(0.5% of rdg. +30 dgt.) (1) 测量速度设置 SLOW2=内部累积时间设为13PLC时 (2) 温度范围 23 ±5℃ 湿度 85% rh以下 (3) 2 mA量程时只能在测量速度为FAST时选择 |
| 电阻显示范围 | 50 Ω 〜2×10 ^19 Ω ※电阻测量精度由电流量程精度和电压设置精度规定 |
| 电流限制 | 0.1〜250.0 V: 5/ 10/ 50 mA, 251〜1000 V: 5/ 10 mA,1001V〜： 1.8mA |
| 测量时间设置 | 延迟时间: 0～9999 ms |
| 功能 | 通道独立接触检查、通道独立线长补偿、通道独立治具电容开路补偿、比较器 |
| 显示 | LCD显示(30位，8行)、背光、高压警告显示 |
| 接口 | USB, RS-232C, GP-IB |
| 电源 | AC100〜240 V , 50/60 Hz, 45 VA |
| 体积及重量 | 330W × 80H × 450D mm, 6.5 kg |
| 附件 | 电源线×1, 使用说明书×1, CD (通讯指令说明书, USB驱动)×1, EXT I/O用公头连接器×1 |
