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日本日置LCR测试仪IM3536

日本日置LCR测试仪IM3536测量频率DC,4Hz~8MHz,测量时间:zui快1ms,基本精度:±0.05% rdg,1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量,可内部发生DC偏压测量,从研发到生产线活跃在各种领域中,主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

产品详情

日本日置LCR测试仪IM3536

DC,4Hz~8MHz测量频率
● 测量频率DC,4Hz~8MHz
● 测量时间:zui快1ms
● 基本精度:±0.05% rdg
● 1mΩ以上的精度保证范围,也可安心进行低阻测量
● 可内部发生DC偏压测量
● 从研发到生产线活跃在各种领域中
主机不标配测试治具。请在选件中选择测试治具和探头。

日本日置LCR测试仪IM3536

宽广范围的测量条件下,非常适用于进行研发和评估实际使用条件的LCR测试仪

宽频率范围的LCR非常适用于研发和评估不同工作频率范围下压电元器件和线圈等的谐振频率。推荐用于评估压电元件和线圈的共振频率。若使用应用软件※则能够简单的对频率、电压和电流进行扫描和测量。
 可变频率:DC, 4 Hz〜8 MHz
电压可变:10 mV〜5 V(V模式/CV模式)
 电流可变:10 μA〜100 mA(CC模式)
※能够使用计算机设置扫频(或电压、电流),并将测量数据以CSV或Excel格式保存。应用软件请使用标配的CD进行安装,或从HP中下载。

日本日置LCR测试仪IM3536


日置LCR测试仪续测量功能:希望以1kHz检查电源电感的L-Q,还想检查直流电阻(Rdc)。这时,1台IM3536就可以在2种测试要求下进行连续高速测试。

LCR测试仪IM3536

LCR测试仪在自动化产线中测试可靠:测试线补偿

线长补偿设置可设置为:0 m / 1 m / 2 m / 4 m。测试线延长时也能保证精度。

LCR测试仪IM3536


LCR测试仪在自动化产线中测试可靠:接触检查功能

4端子测量时,预先设置判断测试端与被测物的接触状态。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,并在超过所设阈值时发出报警信号。


LCR测试仪IM3536

日本日置LCR测试仪IM3536的技术参数:

测量模式LCR(单一条件下测量),连续测量(保存条件下连续测量)

测量参数

Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rdc(直流电阻),Rs (ESR), Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D (tanδ), σ, ε
测量量程100 mΩ~100 MΩ, 10档量程(所有参数由Z规定)
显示范围Z: 0.00 m~9.99999 GΩ, Y: 0.000 n~9.99999 GS, θ: ± (0.000°~999.999°), Q: ± (0.00~9999.99), Rdc: ± (0.00 m~9.99999 GΩ), D: ± (0.00000~9.99999), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)等
基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°(代表值,精度保证范围:1mΩ~200MΩ)
测量频率4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进)
测量信号电平[V模式, CV模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~5 V (zuida50 mA)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 mV~1 V (zuida10 mA)
[V模式, CV模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 mV~1 V (zuida100 mA)
[CC模式]的[通常模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~50 mA (zuida5 V)
1.0001 MHz~8 MHz: 10 μA~10 mA (zuida1 V)
[CC模式]的[低Z高精度模式]
4 Hz~1.0000 MHz: 10 μA~100 mA (zuida1 V)
[直流电阻测量]: 1 V固定
DC偏压发生范围:DC电压0~2.50 V (低Z高精度模式时0 ~1 V)
输出阻抗通常模式:100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω
显示彩色TFT5.7英寸,触摸屏
功能比较器、BIN测量(2个项目10种分类),触发功能、开路·短路补偿、接触检查、面板保存·读取功能、存储功能
接口EXT I/O (处理器), /USB/U盘/LAN/GP-IB/RS-232C, BCD输出
电源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 50 VA max
体积及重量330W × 119H × 230D mm, 4.2 kg
附件电源线×1,使用说明书×1,CD-R(通讯说明书,LCR应用光盘)×1

 日本日置LCR测试仪IM3536的选件:

SMD测试治具IM9100:直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS)
4端子开尔文夹9140-10:DC~200kH,50 Ω,1 m长
测试治具9261-10:线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试治具9262:DC~8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263:直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
DC偏置电压单元 9268-10:直接连接型,40Hz~8MHz,zuida外加电压DC±40V
DC偏置电流单元 9269-10:直接连接型,40Hz~2MHz,zuida外加电流DC 2A(zuida外加电压DC±40V)
4端子探头 9500-10:线长1m,DC~200kHz,50Ω,可测导体直径φ0.3mm~2mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
前端探针IM9901:用于更换L2001的前端的通用尺寸,L2001标配
前端探针IM9902:用于更换L2001的前端的小型尺寸
4端子探头L2000:DC~8MHz,1m长
镊形探头L2001:线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
※使用9268-10或9269-10时需要外接的恒压源、恒流源。

GP-IB连接线9151-02:2m长
RS-232C 连接线 9637:9pin-9pin,1.8m长

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