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日本日置LCR测试仪IM3523

日本日置LCR测试仪IM3523应用于生产线和自动化测试领域的理想选择,基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA),在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。内置比较器和BIN功能,2ms的快速测试时间,LCR测试仪IM3523不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。

产品详情

日本日置LCR测试仪IM3523

应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)
● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。
● 内置比较器和BIN功能
● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接:交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637,不需要硬件控制器。

 

日本日置LCR测试仪IM3523

可靠的产线检查:接触检查功能
检查4端子测量时样品间的接触不良。
 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

日本日置LCR测试仪IM3523

日本日置LCR测试仪IM3523的技术参数:

测量模式LCR,连续测试
测量参数Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q
测量量程100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)
可显示量程Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:
± (0.000000 [单位]* ~9.99999G [单位])(*为更高分辩率时的显示位数)
 只有 Z和Y显示真有效值
θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)
Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)
基本精度Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03°
测量频率40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)
测量信号电平正常模式
V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms
CC模式: 10μA~50mArms,10μArms
输出阻抗正常模式:100Ω
显示单色LCD
测量时间2ms(1kHz,FAST,代表值)
功能比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能
接口EXT I/O(处理器),USB通信(高速)
选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一
电源100~240V AC,50/60Hz,zuida50VA
尺寸及重量260mm W×88mm H×203mm D, 2.4kg
附件

电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1


日本日置LCR测试仪IM3523的选件:

 4端子探头L2000:DC~8MHz,1m长
4端子开尔文夹9140-10:DC~200kH,50 Ω,1 m长
镊形探头L2001:线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
测试治具9261-10:线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试治具9262:DC~8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263:直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB连接线9151-02:2m长

Z3002-2.jpg

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