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日本日置LCR测试仪HIOKI 3511-50

日本日置LCR测试仪HIOKI 3511-50精巧,5ms快速测量LCR,高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz),高精度: ± 0.08%,内置比较器

 

产品详情

日本日置LCR测试仪HIOKI 3511-50

精巧,5ms快速测量LCR
● 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz)
● 高精度: ± 0.08%
● 内置比较器

 日本日置LCR测试仪HIOKI 3511-50

日本日置LCR测试仪HIOKI 3511-50的技术参数:

测量参数│Z│,θ,C,L,D,Q,R
测量方法测量源:恒压50mV,500mV,1Vrms(AC)
检测:电压,AC
测量频率120Hz或1kHz
测量量程│Z│,R:10mΩ~200.00MΩ(视条件而定)
θ: -90.00~+90.00 ° C:0.940pF~999.99mF
L: 1.600μH~200.00kH,D:0.0001~1.9900
Q: 0.85~999.99
基本精度│Z│: ± 0.08%rdg.,θ: ± 0.05 °
测量时间快速:5ms~慢速:300ms(1kHz)
快速:30ms~慢速:400ms(120Hz)
显示zuida显示值99999, LED显示
比较器功能设定:上、下限值,值 输出:3档(高,中,低),开路集电极,隔离
外部打印9442(使用9443-02/9444)
电源供应交流100~240V,50/60Hz(可选择)
体积及重量210宽 × 100高 × 168厚mm,2.5kg
附件电源线×1,保险丝×1,使用说明书×1

 

日本日置LCR测试仪IM3511-50的选件:

 4端子探头L2000:DC~8MHz,1m长
4端子开尔文夹9140-10:DC~200kH,50 Ω,1 m长
镊形探头L2001:线长73cm,DC~8MHz,50Ω,前端电极间隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
测试治具9261-10:线长1m,DC~5MHz,特性阻抗50Ω,可测端口直径:0.3~1.5mm
测试治具9262:DC~8 MHz, 直接连接型
SMD测试治具9263:直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm
SMD测试治具9677:用于侧面有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD测试治具9699:用于底部有电极的SMD DC~120MHz,测试样品 尺寸:宽1.0~4.0mm,高1.5mm以下
GP-IB接口Z3000
RS-232接口Z3001
Oz3002:LAN接口Z3002
GP-IB连接线9151-02:2m长

Z3002-2.jpg

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